Por: Cassio Barbosa (Instituto Nacional de tecnologia (INT)), alan menezes do nascimento (Insituto Nacional de Tecnologia (INT)), claudio teodoro dos santos (Insituto Nacional de Tecnologia)
Resumo:
A análise por EBSD possibilita a obtenção de vários dados cristalográficos, que permitem o mapeamento de fases com diferentes estruturas cristalinas, mesmo com composição química muito semelhante, texturas cristalográficas/orientações preferenciais, tamanho de grão, subgrãos e desorientações locais em microrregiões, entre outros dados. Permite obter, em escala micrométrica, dados obtidos com a difração de raios X em escala macrométrica. A incidência do feixe difratado de elétrons retroespalhados numa tela de fósforo produz nesta as chamadas bandas de Kikuchi, que ao serem indexadas por métodos computacionais, geram os padrões que originam os chamados mapas, que permitem a revelam as informações cristalográficas. O desenvolvimento computacional das últimas décadas (hardware e software) acelerou os processos de obtenção, calibração e indexação de padrões utilizados na análise cristalográfica de materiais cristalinos, realizados a partir da difração de elétrons retroespalhados (EBSD: "Electron Back Scatter Diffraction"), a partir da incidência de um feixe de elétrons primários, gerados num microscópio eletrônico de varredura (MEV). O objetivo deste trabalho é contribuir para ampliar a divulgação desta técnica, apresentando alguns conceitos teóricos e alguns resultados práticos de análises realizadas, com propósito ilustrativo.